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      當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心顯微測(cè)量?jī)x白光干涉儀SuperViewW1高分辨率3d白光干涉儀
      高分辨率3d白光干涉儀

      產(chǎn)品簡(jiǎn)介

      SuperViewW高分辨率3d白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)??梢詮V泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

      產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1
      更新時(shí)間:2025-04-08
      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      訪問(wèn)量:842
      詳細(xì)介紹在線留言

      中圖儀器SuperViewW高分辨率3d白光干涉儀能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率,測(cè)試各類表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。

      高分辨率3d白光干涉儀

      SuperViewW高分辨率3d白光干涉儀具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測(cè)??蓽y(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。


      產(chǎn)品功能

      (1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺(tái)階高、角度等輪廓尺寸測(cè)量功能;

      (2)測(cè)量中提供自動(dòng)對(duì)焦、自動(dòng)找條紋、自動(dòng)調(diào)亮度等自動(dòng)化輔助功能;

      (3)測(cè)量中提供自動(dòng)拼接測(cè)量、定位自動(dòng)多區(qū)域測(cè)量功能;

      (4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

      (5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

      (6)分析中同時(shí)提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

      高分辨率3d白光干涉儀


      白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。針對(duì)完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求,中圖儀器SuperView W1的復(fù)合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下,只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn),即可自動(dòng)掃描,重建其超光滑的表面區(qū)域,不見(jiàn)一絲重疊縫隙。


      應(yīng)用領(lǐng)域

      對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。

      應(yīng)用范例:

      高分辨率3d白光干涉儀

      在3C領(lǐng)域,可以測(cè)量藍(lán)寶石屏、濾光片、表殼等表面粗糙度;

      在LED行業(yè),可以測(cè)量藍(lán)寶石、碳化硅襯底表面粗糙度;

      在光纖通信行業(yè),可以測(cè)量光纖端面缺陷和粗糙度;

      在集成電路行業(yè),可以測(cè)量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;

      在EMES行業(yè),可以測(cè)量臺(tái)階高度和表面粗糙度;

      在軍事領(lǐng)域,可以測(cè)量藍(lán)寶石觀察窗口表面粗糙度。


      性能特色

      1、高精度、高重復(fù)性

      1)采用光學(xué)干涉技術(shù)、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測(cè)量系統(tǒng),保證測(cè)量精度高;

      2)隔振系統(tǒng),能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動(dòng),消除地面振動(dòng)噪聲和空氣中聲波振動(dòng)噪聲,保障儀器在大部分的生產(chǎn)車間環(huán)境中能穩(wěn)定使用,獲得高測(cè)量重復(fù)性;

      2、環(huán)境噪聲檢測(cè)功能

      具備的環(huán)境噪聲檢測(cè)模塊能夠定量評(píng)估出外界環(huán)境對(duì)儀器掃描軸的震動(dòng)干擾,在設(shè)備調(diào)試、日常監(jiān)測(cè)、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐。

      3、精密操縱手柄

      集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測(cè)量前工作。

      4、雙重防撞保護(hù)措施

      在初級(jí)的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí),儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài),最大限度的保護(hù)儀器,降低人為操作風(fēng)險(xiǎn)。

      5、雙通道氣浮隔振系統(tǒng)

      既可以接入客戶現(xiàn)場(chǎng)的穩(wěn)定氣源也可以接入標(biāo)配靜音空壓機(jī),在無(wú)外接氣源的條件下也可穩(wěn)定工作。

      高分辨率3d白光干涉儀


      部分技術(shù)指標(biāo)

      型號(hào)W1
      光源
      白光LED
      影像系統(tǒng)1024×1024
      干涉物鏡

      標(biāo)配:10×

      選配:2.5×;5×;20×;50×;100×

      光學(xué)ZOOM

      標(biāo)配:0.5×

      選配:0.375×;0.75×;1×

      物鏡塔臺(tái)

      標(biāo)配:3孔手動(dòng)

      選配:5孔電動(dòng)


      XY位移平臺(tái)

      尺寸320×200㎜
      移動(dòng)范圍140×100㎜
      負(fù)載10kg
      控制方式電動(dòng)
      Z軸聚焦行程100㎜
      控制方式電動(dòng)
      Z向掃描范圍10 ㎜
      主機(jī)尺寸(長(zhǎng)×寬×高)700×606×920㎜

      懇請(qǐng)注意:因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請(qǐng)諒解。

      如有疑問(wèn)或需要更多詳細(xì)信息,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。



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