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      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量

      產(chǎn)品簡介

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量軟件包含多個模塊。500萬像素高分辨率彩色攝像機,即時進行高精度定位測量。可以將探針的形貌圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X上,使得測量更加直觀。

      產(chǎn)品型號:NS200
      更新時間:2025-04-07
      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      訪問量:867
      詳細介紹在線留言

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量

      中圖儀器NS系列臺階儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測量。是一種可以測量微米和納米結(jié)構(gòu)進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的接觸式表面形貌測量儀器。

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量

      工作原理

      當觸針沿被測表面輕輕滑過時,由于表面有微小的峰谷使觸針在滑行的同時還沿峰谷作上下運動。觸針的運動情況就反映了表面輪廓的情況。

      通常使用2μm半徑的金剛石針尖來測量這些小特征。一個精密的xy載物臺聯(lián)合掃描軸R和轉(zhuǎn)臺θ,在測針下移動樣品,測針中的垂直位移被轉(zhuǎn)換為與特征尺寸相對應(yīng)的電信號。然后將這些電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字格式,在其中它們可以顯示在計算機屏幕上并進行操作以確定有關(guān)基材的各種分析信息。可以微調(diào)掃描長度和掃描速度,以增加或減少分析時間和分辨率。此外,測力可調(diào)以適應(yīng)硬質(zhì)或軟質(zhì)材料表面。


      結(jié)構(gòu)

      主要組成部分

      1、測量系統(tǒng)

      (1)單拱龍門式設(shè)計,結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性好,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響,提高了測量精度。

      (2)線性可變差動電容傳感器(LVDC),具有亞埃級分辨率,13μm量程下可達0.01埃。高信噪比和低線性誤差,使得產(chǎn)品能掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。

      (3)傳感器設(shè)計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和正常力測量。測力恒定可調(diào),以適應(yīng)硬質(zhì)或軟質(zhì)材料表面。超低慣量設(shè)計和微小電磁力控制,實現(xiàn)無接觸損傷的精準接觸式測量。

      2、工件臺

      (1)精密的XY平臺結(jié)合360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)電動旋轉(zhuǎn)臺,可以對樣品的位置以及角度進行調(diào)節(jié),三維位置均可以調(diào)節(jié),利于樣品調(diào)整。

      (2)超高直線度導(dǎo)軌,有效避免運動中的細微抖動,提高掃描精度,真是反映工件微小形貌。

      3、成像系統(tǒng)

      500萬像素高分辨率彩色攝像機,即時進行高精度定位測量。可以將探針的形貌圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X上,使得測量更加直觀。

      4、軟件系統(tǒng)

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量軟件包含多個模塊。

      5、減震系統(tǒng)

      防止微小震動對測量結(jié)果的影響,使實驗數(shù)據(jù)更加準確。

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量

      產(chǎn)品功能

      1.參數(shù)測量功能

      1)臺階高度:能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度,可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料;

      2)粗糙度與波紋度:能夠測量樣品的粗糙度和波紋度,分析軟件通過計算掃描出的微觀輪廓曲線,可獲取粗糙度與波紋度相關(guān)的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余項參數(shù);

      3)翹曲與形狀:能夠測量樣品表面的2D形狀或翹曲,如在半導(dǎo)體晶圓制造過程中,因多層沉積層結(jié)構(gòu)中層間不匹配所產(chǎn)生的翹曲或形狀變化,或者類似透鏡在內(nèi)的結(jié)構(gòu)高度和曲率半徑。

      2.數(shù)采與分析系統(tǒng)

      1)自定義測量模式:支持用戶以自定義輸入坐標位置或相對位移量的方式來設(shè)定掃描路徑的測量模式;

      2)導(dǎo)航圖智能測量模式:支持用戶結(jié)合導(dǎo)航圖、標定數(shù)據(jù)、即時圖像以智能化生成移動命令方式來實現(xiàn)掃描的測量模式。

      3)SPC統(tǒng)計分析:支持對不同種類被測件進行多種指標參數(shù)的分析,針對批量樣品的測量數(shù)據(jù)提供SPC圖表以統(tǒng)計數(shù)據(jù)的變化趨勢。

      3.光學(xué)導(dǎo)航功能

      配備了500W像素的彩色相機,可實時將探針掃描軌跡的形貌圖像傳輸?shù)杰浖酗@示,進行即時的高精度定位測量。

      4.樣品空間姿態(tài)調(diào)節(jié)功能

      配備了精密XY位移臺、360°電動旋轉(zhuǎn)平臺和電動升降Z軸,可對樣品的XYZ、角度等空間姿態(tài)進行調(diào)節(jié),提高測量精度及效率。

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量

      產(chǎn)品應(yīng)用

      NS系列臺階儀應(yīng)用場景適應(yīng)性強,其對被測樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無特殊要求,能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位,其對表面微觀形貌參數(shù)的準確表征,對于相關(guān)材料的評定、性能的分析與加工工藝的改善具有重要意義。

      典型應(yīng)用:

      臺階儀高精度薄膜厚度與臺階高度測量


      部分技術(shù)參數(shù)

      型號NS200
      測量技術(shù)探針式表面輪廓測量技術(shù)
      探針傳感器超低慣量,LVDC傳感器
      平臺移動范圍X/Y電動X/Y(150mm*150mm)(可手動校平)
      樣品R-θ載物臺電動,360°連續(xù)旋轉(zhuǎn)
      單次掃描長度55mm
      樣品厚度
      50mm
      載物臺晶圓尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)
      尺寸(L×W×H)mm640*626*534
      重量40kg
      儀器電源100-240 VAC,50/60 Hz,200W

      使用環(huán)境

      相對濕度:濕度 (無凝結(jié))30-40% RH

      溫度:16-25℃ (每小時溫度變化小于2℃)

      地面振動:6.35μm/s(1-100Hz)

      音頻噪音:≤80dB

      空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動)

      懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

      如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯(lián)系中圖儀器咨詢。

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